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전단파를 이용한 이미징 방법 및 기기
专利权人:
发明人:
몽탈두 가브리엘,벨코프 제레미,통테 미카엘,핑크 마티아
申请号:
KR1020127029983
公开号:
KR1015813690000B1
申请日:
2010.04.20
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
imaging method using shear waves to observe a viscoelastic medium (2) according to the present invention is the elastic shear wave is maximum distance (D in the viscoelastic medium (2) by the imaging device m ) as the other where the position separated from each other (L viscoelastic in several successive This step during which each occurrence from the j ) (j) and a time (t k ) Continuous low-image of the medium Im j (t k ) set corresponding to each of this step (j) is measured by the imaging device during the propagation of in shear wave the viscoelastic medium imaging step and the same relative time (t k ) low image corresponding to Im j (t k ) is the relative time (t k average image corresponding to ) Im (t and a mean step is to determine the average k ).본 발명에 따른 점탄성 매질(2)을 관찰하기 위해 전단파를 이용한 이미징 방법은 탄성 전단파가 이미징 디바이스에 의해 점탄성 매질(2)내에 최대 거리(Dm)만큼 서로 떨어져 있는 다른 여기위치(Lj)에서 각각 발생되는 동안의 여러 연속 여기단계(j)와, 시간 (tk)에서 점탄성 매질의 연속 로우 이미지 Imj(tk) 세트가 상기 점탄성 매질내 전단파의 전파 동안 상기 이미징 디바이스에 의해 측정되는 각 여기단계(j)에 대응하는 이미징단계와, 동일한 상대 시간(tk)에 대응하는 로우 이미지 Imj(tk)가 상기 상대 시간(tk)에 대응하는 평균 이미지 Im(tk)를 결정하도록 평균되는 평균단계를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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