Verfahren zum optimierten Einstellen der Lichtleistung in der Objektebene bei Auflichtmikroskopen durch automatische Begrenzung der Lichtintensität der ausgeleuchteten Fläche unter Berücksichtigung der vorliegenden Mikroskop-Geräteparameter, wobei hierfür eine Überprüfung erfolgt, ob oder inwieweit eine thermische Gefährdung oder Schädigung der beleuchteten Flächenabschnitte relevant ist, um beim Erreichen eines Schwellwerts die Lichtleistung der Lichtquelle zu regulieren.Method for optimized adjustment of the light output in the object plane in incident light microscopes by automatically limiting the light intensity of the illuminated surface taking into account the present microscope device parameters, for which a check is made whether or to what extent a thermal hazard or damage to the illuminated surface sections is relevant to achieve a threshold to regulate the light output of the light source.
