Being the manner which decides the gap between the coordinate systems of the technical system where multiple differs, the 1st technical system among the aforementioned multiple technical systems (24) the coordinate system (u, v) the test target in (26) the access dot (32) coordinate position is decided, one test dot is locked at least in the aforementioned test target, the said test dot in the coordinate position which is decided depending upon the coordinate position to which the aforementioned access dot is decided the 2nd technical system among the aforementioned multiple technical systems (18,22) the coordinate system (x, y) atAt least one where it is locked, decides the coordinate position of one side, at least one which is led from there aforementioned at least the coordinate system of one test dot and the aforementioned 1st technical system (u, v) in principal dot (36) with at least in each case is led from there at least the coordinate system of one which at least, (a) aforementioned is decided test dot and the aforementioned 1st technical system (u, v) in the gap between the coordinate systems aforementioned of the 1st and 2nd technical system, principal dot (36) with at least in each case on the one hand, and (b) The coordinate system of the aforementioned 1st technical system (u, v) the manner which features that it decides on the basis of the coordinate position of the aforementioned access dot in.< Choice figure > Drawing 3複数の異なる技術システムの座標システム間のずれを決定する方法であって、前記複数の技術システムのうちの第1の技術システム(24)の座標システム(u,v)におけるテスト対象(26)の参照点(32)の座標位置を決定し、少なくとも1つのテスト点を前記テスト対象に固定し、該テスト点は前記複数の技術システムのうちの第2の技術システム(18,22)の座標システム(x,y)において前記参照点の決定された座標位置によって決定される座標位置に固定され、前記少なくとも1つのテスト点と、前記第1の技術システムの座標システム(u,v)においてそこから導かれる少なくとも1つの主要点(36)との少なくともいずれか一方の座標位置を決定し、前記第1及び第2の技術システムの座標システム間のずれを、少なくとも、(a)前記決定された少なくとも1つのテスト点と、前記第1の技術システムの座標システム(u,v)においてそこから導かれる少なくとも1つの主要点(36)との少なくともいずれか一方、及び(b)前記第1の技術システムの座標システム(u,v)における前記参照点の座標位置に基づいて決定することを特徴とする方法。【選択図】 図3
