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X線撮影装置およびX線検出器
专利权人:
SHIMADZU CORP
发明人:
TOKUDA SATOSHI,徳田 敏,YOSHIMUTA TOSHINORI,吉牟田 利典,KISHIHARA HIROYUKI,岸原 弘之,WADA YUKIHISA,和田 幸久
申请号:
JP2016112692
公开号:
JP2017219374A
申请日:
2016.06.06
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray photograph device and an X-ray detector with which it is possible to acquire an image having high picture quality (S/N) and an excellent spatial resolution.SOLUTION: When photographing an X-ray phase image using a diffraction grating constituted by juxtaposing a plurality of diffraction members, each pixel electrode 61c is constituted in shape of a rectangle that satisfies the relationship A>B, where A represents the length along a first direction (direction y) to which the diffraction members extend and B represents the length along a second direction (direction x) in which the diffraction members are juxtaposed. Thus, it is possible to obtain a sufficient sampling pitch by making a sampling pitch (length B along the second direction) finer. As a result, it is possible to acquire an image having the same high picture quality (S/N) as would be obtained by a fringe scanning method, and an excellent spatial resolution.SELECTED DRAWING: Figure 3COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】高い画質(S/N)とともに空間分解能が良好な画像を取得することができるX線撮影装置およびX線検出器を提供することを目的とする。【解決手段】複数の回折部材を並列して構成された回折格子を用いてX線位相画像を撮影する場合において、回折部材が延伸する第1の方向(y方向)に沿った長さをAとし、回折部材を並列する第2の方向(x方向)に沿った長さをBとしたときに、A>Bを満たした長方形状で各画素電極61cを構成する。これにより、サンプリングピッチ(第2の方向に沿った長さB)を細かくすることにより、十分なサンプリングピッチが得られる。その結果、縞走査法と同等の高い画質(S/N)とともに空間分解能が良好な画像を取得することができる。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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