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CIRCUIT INTÉGRÉ ET DISPOSITIF DE MESURE
专利权人:
SHARP KABUSHIKI KAISHA;シャープ株式会社
发明人:
MASUDA Ryohichi,増田 亮一,KAWANISHI Hidenori,河西 秀典,増田 亮一,河西 秀典
申请号:
JPJP2016/061160
公开号:
WO2016/170973A1
申请日:
2016.04.05
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
This integrated circuit is provided with, on the same substrate: a first detection element, which detects the temperature of a subject on the basis of infrared light reflected by the subject; and a second detection element, which detects an image of the subject on the basis of visible light reflected by the subject.Circuit intégré comprenant, sur le même substrat : un premier élément de détection qui détecte la température d'un sujet sur la base de la lumière infrarouge réfléchie par le sujet; et un second élément de détection qui détecte une image du sujet sur la base de la lumière visible réfléchie par le sujet.集積回路は、対象物から反射する赤外光に基づいて、対象物の温度を検出する第1の検出素子と、対象物から反射する可視光に基づいて、対象物の画像を検出する第2の検出素子とを同一基板上に備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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