A system for measuring a gas concentration, the system including: a first oscillator including a first surface for placement in a sampling location, wherein the first oscillator oscillates at a frequency greater than 20,000 Hz but less than 300,000,000 Hz； a first counter to accumulate a count of oscillations of the first oscillator； and a comparator to calculate a difference between the accumulated counts of the first oscillator and a reference, wherein the difference calculated by the comparator is sampled at a frequency of less than 100 Hz.L'invention concerne un système pour la mesure d'une concentration de gaz, le système comportant: un premier oscillateur comprenant une première surface destinée à être placée dans un emplacement d'échantillonnage, le premier oscillateur oscille à une fréquence supérieure à 20,000 Hz mais inférieure à 300,000,000 Hz； un premier compteur pour accumuler un décompte du nombre d'oscillations du premier oscillateur； et un comparateur pour calculer une différence entre les décomptes accumulés du premier oscillateur et une référence, la différence calculée par le comparateur étant échantillonnée à une fréquence inférieure à 100 Hz.
