一种X射线偏移的校正方法和装置
- 专利权人:
- 上海西门子医疗器械有限公司
- 发明人:
- 邵军明
- 申请号：
- CN200910143821.X
- 公开号：
- CN101900823B
- 申请日:
- 2009.05.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种X射线偏移的校正方法，该方法包括以下步骤：A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子，并进行存储；B、在扫描过程中，实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量；C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子，以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量，对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。同时，本发明还公开了一种X射线偏移的校正装置，采用该方法和装置可提高X射线偏移的校正精度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
