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MEASUREMENT DEVICE
专利权人:
アークレイ株式会社;ARKRAY INC
发明人:
NAKAGAWA TAKASHI,中川 貴司
申请号:
JP2012093716
公开号:
JP2013017808A
申请日:
2012.04.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device allowing a user to easily perform work for specifying an in-measurement state in which measurement is performed.SOLUTION: An in-measurement state information storage part 25a stores, corresponding to a time zone a plurality of pieces of in-measurement state information for specifying the in-measurement state in which the prescribed measurement is performed on a measurement target. A measurement processing part 26 executes the measurement on the measurement target. A display part 37 selects the in-measurement state information corresponding to measurement operation timing from the plurality of pieces of in-measurement state information based on the time of the measurement operation timing or based on a processing result obtained by the execution of the measurement in the measurement processing part 26, and makes the selected in-measurement state information be displayed on a display in a state in which the selected in-measurement state information is distinguished from the other pieces of in-measurement state information.【課題】測定が行われた測定時状態を特定可能にするための作業をユーザが簡易に行うことができる、測定装置を提供する。【解決手段】測定時状態情報記憶部25aは、測定対象に対して所定の測定が行われる測定時状態を特定するための複数の測定時状態情報が、時間帯と対応して記憶される。測定処理部26は、測定対象に対する測定を実行する。表示部37は、複数の測定時状態情報のうちから、測定操作タイミングに対応する測定時状態情報を、測定操作タイミングの時刻に基づいて、又は、測定処理部26で測定が実行されることによって得られた処理結果に基づいて、選択し、選択した測定時状態情報を他の測定時状態情報から区別された状態でディスプレイに表示させる。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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