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Method for diagnosing giftedness of child comprising dynamic index and suggesting a proposed teaching aids using it
专利权人:
EUN JI;KIM
发明人:
KIM, EUN JI,김은지,KIM, EUN JIKR
申请号:
KR1020170058058
公开号:
KR1017990130000B1
申请日:
2017.05.10
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention relates to a method of diagnosing the giftedness of a child. The present invention relates to a method for diagnosing the giftedness of a child comprising a dynamic index and a method for suggesting proposed teaching aids using it. While proposing the diagnostic results of an objectified static indicator format, dynamic indicators related to the potential giftedness of a testee during a diagnostic process is extracted using scientific tools. It is reflected to a composite index. So, it is possible to objectively diagnose the giftedness of a child while meeting the diversity needs of diagnosing the giftedness. The method includes a questioning step; a static evaluation step; a dynamic evaluation step; a biological signal storage step; and a diagnostic score adjusting step.본 발명은 영재 진단 방법에 관한 것으로서, 객관화된 정적 지표 형식의 진단 결과를 제시하면서 진단 과정에서 진단 대상자의 잠재적 영재성 발현 가능성에 관련된 동적 지표들을 과학적인 도구들을 활용하여 추출하여 종합 지표에 반영함으로써 영재 판별의 다양성 요구에 부합되도록 하면서 보다 객관적으로 영재를 진단할 수 있도록 한 동적 지표를 포함한 영재성 판별 방법 및 이를 이용한 맞춤형 영재성 개발 교구 제안 방법에 관한 것이다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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