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X射线计算断层成像扫描仪、剂量计算方法以及程序
- 专利权人:
- GE医疗系统环球技术有限公司
- 发明人:
- 贯井正健
- 申请号：
- CN201210416320.6
- 公开号：
- CN103083032B
- 申请日:
- 2012.10.26
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及X射线计算断层成像扫描仪、剂量计算方法以及程序。[问题] 需要在X射线CT扫描的剂量计算期间更准确地反映成像目标尺寸。[解决方案] 执行第一步骤和第二步骤。第一步骤基于从在主扫描之前对成像目标执行的X射线成像获得的数据来估计特征量NI，其与通过在预定扫描条件（KV和ref_mAs）下对成像目标执行X射线CT扫描获得的且与剂量具有相关关系的图像的图像质量和像素值中的一个有关。第二步骤基于由第一步骤估计的特征量NI与所述预定扫描条件（KV和ref_mAs）、参考特征量NI和剂量f(NI)之间的所述初步获得的关系来针对在期望设定扫描条件（KV和real_mAs）下执行X射线CT扫描时的情况计算用于成像目标的剂量CTDI。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
