用于测试电子元件的装置

• 收藏
• 分享

专利权人:

分类测试电子系统公司

发明人:

沃克·雷克莫泽,格哈德·格斯克温德博格

申请号：

CN201510105513.3

公开号：

CN104914323A

申请日:

2015.03.11

申请国别(地区):

中国

年份:

2015

代理人:

瞿卫军`王莹

摘要：

本发明涉及一种用于测试电子元件(4)的装置，具有：至少一个测试插座(1)，带有测试接触部(2)，带有槽件(3)，在所述槽件中可放置至少一个电子元件(4)；及用于测试插座(1)的测试接触部(2)的至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)，其中，通过在测试插座(1)与槽件(3)之间作为测试进程实施的相对移动，所述电子元件(4)压在测试插座(1)的测试接触部(2)上，且可再次从测试接触部上抬起。根据本发明，至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)这样地设计，即，在每个测试进程中，测试接触部(2)与至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)接触。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/