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얼라인먼트 과정을 단순하게 하기 위한 광 간섭성 단층 촬영방법
专利权人:
PHOTONICS PLANAR INTEGRATION TECHNOLOGY INC.
发明人:
KWAK, SEUNG CHANKR,곽승찬,SEO, JAE HEEKR,서재희,KIM, JIN BONGKR,김진봉,MOON, HYUNG MYUNGKR,문형명
申请号:
KR1020120132117
公开号:
KR1020140077229A
申请日:
2012.11.21
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention relates to an optical coherence tomography (OCT) method for simplifying an alignment process to measure an accurate portion of a sample. According to an embodiment of the present invention, an OCT method for simplifying an alignment process during OCT by an OCT apparatus is provided. The method comprises steps of: scanning a first region of the entire region of a sample intended to be scanned scanning a second region including the first region in the entire region of the sample intended to be scanned comparing the scanning result of the first region and the scanning result of the second region determining matched data according to the comparison result and determining which portion of the entire region of the sample the second region is, based on the matched data.COPYRIGHT KIPO 2014본 발명의 목적은 샘플의 정확한 부분을 측정하기 위한 얼라인먼트 과정을 단순화하기 위한 광 간섭 단층 촬영방법을 제공하는 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 광 간섭성 단층 촬영 장치에 의한 광 간섭성 단층 촬영 시 얼라인먼트 과정을 단순화하기 위한 광 간섭성 단층 촬영 방법이 개시된다. 상기 방법은 스캐닝하고자 하는 샘플의 전체 영역 중 제 1 영역을 스캐닝하는 단계 상기 스캐닝하고자 하는 샘플의 전체 영역 중 제 1 영역을 포함하는 제 2 영역을 스캐닝하는 단계 상기 제 1 영역의 스캐닝 결과와 상기 제 2 영역의 스캐닝 결과를 비교하는 단계 상기 비교 결과 매칭되는 데이터를 결정하는 단계 및 상기 매칭되는 데이터에 기반하여 상기 제 2 영역이 상기 샘플의 전체 영역 중 어느 부분인지를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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