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光干渉断層計
专利权人:
CANON INC
发明人:
FUJII HIDEKAZU,藤井 英一
申请号:
JP2015246895
公开号:
JP2017111062A
申请日:
2015.12.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small size SS-OCT by integrating an interferometer for generating clock signal used for sampling an interference signal on a base plate.SOLUTION: The optical coherence tomograph (SS-OCT) uses a light source part that changes wavelength of emitting light. A reference optical system constituting the SS-OCT and an interferometer constituting a clock signal output section that outputs a clock signal used for sampling an interference signal, are integrated on an identical base plate.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】 干渉信号をサンプリングするためのクロック信号を生成するための干渉計を基板上に集積化することで、小型のSS-OCTを実現すること。【解決手段】射出する光の波長を変化させる光源部を用いた光干渉断層計(SS-OCT)で、SS-OCTを構成する参照光学系と、干渉信号をサンプリングするためのクロック信号をクロック信号出力部を構成する干渉計とが、同一の基板上に集積化されている光干渉断層計。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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