超声探头几何参数的校正方法和装置及系统
- 专利权人:
- 飞依诺科技(苏州)有限公司
- 发明人:
- 吴方刚
- 申请号：
- CN201210339675.X
- 公开号：
- CN102871685B
- 申请日:
- 2012.09.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种超声探头几何参数的校正方法和装置及系统。该方法包括如下步骤：在超声系统中设置感兴趣区域为发射焦区，读取探头的待校正几何参数列表R；将各几何参数应用于发射和接收的波束合成，采集几何参数对应的感兴趣区域内的I、Q数据，并对I、Q数据求幅度，对感兴趣区域内的幅度数据做二维傅里叶变换；对感兴趣区域截止频率半径范围[D1，D2]内的频谱能量求和，得到几何参数列表R对应的能量值列表；在能量值列表中查找幅度最大的能量值对应的几何参数，作为所述探头校正后的最优几何参数，并将该最优几何参数作为所述探头的几何参数应用于所述超声系统后续的超声成像，其提高了超声图像质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
