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一种基于参考电极的脑电坏导插值方法
专利权人:
电子科技大学
发明人:
董立,张昱帆,赵铃铃,郑婷,李建福,尧德中
申请号:
CN202010444340.9
公开号:
CN111513711A
申请日:
2020.05.22
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本发明公开了一种基于参考电极的脑电坏导插值方法,包括以下重建步骤;S1:利用脑电采集系统得到原始分布坐标和原始脑电信号;S2:剔除异常导联,得到剔除坏导后头表电极的分布坐标;S3:计算剔除异常导联后电信号的平均矩阵;S4:根据剔除坏导后分布坐标、头模型和等效分布源模型计算出剔除坏导后导联场矩阵;S5:根据平均矩阵计算出等效分布源,计算出广义逆矩阵;S6:根据原始分布坐标、头模型和等效分布源模型计算原始导联场矩阵。S7:根据等效分布源和原始导联场矩阵,重建所有头表电极电信号的无穷远矩阵;S8:获取重建后的坏导脑电波形。本发明能够有效减少参考点电位对坏导重建结果的影响。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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