Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Messung und Einstufung der Schädelform, wobei der zu untersuchende Kopf 1 zunächst optisch erfasst wird. Anschließend werden Schädellänge SL und Schädelbreite SB gemessen und daraus der Cranial Index CI bestimmt. Anschließend wird mindestens ein Paar Schädeldiagonalen festgelegt und deren Länge bestimmt. Aus der Länge der Schädeldiagonalen wird dann der Cranial Vault Asymmetry Index bestimmt und aus dem Vergleich der Maximalwerte von Cranial Index CI und Cranial Vault Asymmetry Index eine Einstufung der Schädelform vorgenommen.the subject of the invention is a method for measuring and classifying the sch\u00e4delform, with the test head 1 first optically recorded. subsequently, sch\u00e4dell\u00e4nge sl and sch\u00e4delbreite sb is measured and it cranial index ci. subsequently, at least a pair of sch\u00e4deldiagonalen defined and whose length is determined.the length of the sch\u00e4deldiagonalen then cranial vault asymmetry index and from the comparison of the maximum values of cranial index ci and cranial vault asymmetry index classification of the sch\u00e4delform made.
