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インピーダンス測定回路及び方法
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
发明人:
ピンター,ロベルト,シュミット,ラルフ
申请号:
JP2011531597
公开号:
JP2012506046A
申请日:
2009.10.08
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
The impedance measuring circuit, has with current source layout and voltage measurement layout and the processor. The circuit operates with 2 dot measurement modes and 4 dot measurement modes, the processor is formed in order to guide the impedance which is measured by combining the measurement voltage due to 2 dot measurement modes and 4 dot measurement modes. This is something which offers the improvement of measurement precision combining the husband Various result of 2 dot measurement technologies and 4 dot measurement technologies. Especially, the result of two modes makes that influence of electrode resistance is offset possible.インピーダンス測定回路は、電流源配置と、電圧測定配置と、プロセッサとを有する。回路は、2点測定モード及び4点測定モードで動作し、プロセッサは、2点測定モード及び4点測定モードによる測定電圧を組み合わせることによって、測定されるインピーダンスを導出するよう構成される。これは、2点測定技術及び4点測定技術の夫々の結果を組み合わせて、測定精度の改善を提供するものである。特に、2つのモードの結果は、電極抵抗の影響が相殺されることを可能にする。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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