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一种薄膜制备方法及相应的二硫化钼薄膜和光电探测器
专利权人:
北京邮电大学
发明人:
吴真平,焦雷,王月晖,陈政委,张晓,唐为华
申请号:
CN201810600303.5
公开号:
CN108660416A
申请日:
2018.06.12
申请国别(地区):
中国
年份:
2018
代理人:
乔东峰
摘要:
本发明公开了一种薄膜制备方法、MoS2薄膜和光电探测器,所述方法利用激光脉冲轰击靶材,使靶材材料以等离子体的方式溅射出来,进而沉积在衬底表面,并通过原子间作用力相互吸附进而形成薄膜。所述薄膜优选为层状过渡金属二硫族化合物薄膜,特别是MoS2薄膜,通过控制所述激光脉冲的数目对薄膜的层数进行控制。本发明能够制备大面积、厚度可控的MoS2薄膜,利用MoS2薄膜制备的光电探测器具有良好的输出特性,光电响应也十分明显。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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