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Verfahren und System zur Lokalisierung
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Andreas Ziroff
申请号:
DE102016211639
公开号:
DE102016211639A1
申请日:
2016.06.28
申请国别(地区):
DE
年份:
2017
代理人:
摘要:
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren und dem System zur Lokalisierung wird eine relative Lage eines ersten Objekts zu einem zweiten Objekt mittels Verwendung eines durch einer auf dem ersten und zweiten Objekt verteilten Anordnung zur Magnetfelderzeugung erzeugten 2n-poligen Magnetfelds ermittelt, mit n größer oder gleich dem Wert 2.In the method according to the invention and the system for localization, a relative position of a first object to a second object by use of a by a on the first and second object distributed arrangement for producing a magnetic field generated 2n - polar determined, with n is greater than or equal to the value 2.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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