反射特性を測定する測定装置および測定方法、プログラム
- 专利权人:
- キヤノン株式会社
- 发明人:
- 瀬戸 貴公
- 申请号：
- JP20150136436
- 公开号：
- JP2017020816(A)
- 申请日:
- 2015.07.07
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】測定対象の反射特性を自動で測定する際に、測定対象に適した測定結果を得ること。【解決手段】測定装置は、第１の方向から測定対象を照射して拡散光を測定することで得られる第１の反射率を取得する。また、第１の方向よりも地平に近い方向である第２の方向から測定対象を照射して拡散光を測定することで得られる第２の反射率を取得する。そして、第１の反射率と前記第２の反射率とに基づいて、前記測定対象が内部散乱の影響を受ける対象であるかを判定し、判定結果に基づいて測定対象の反射特性を出力する。【選択図】図１
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