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Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备
专利权人:
纳米维景(上海)医疗科技有限公司
发明人:
陈浩维
申请号:
CN202111541758.2
公开号:
CN114391861A
申请日:
2021.12.16
申请国别(地区):
CN
年份:
2022
代理人:
摘要:
本发明实施例公开了一种Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法,包括以下步骤:S1、获取扫描床的竖直高度信息;S2、根据所述竖直高度信息,获取精调信息;S3、获取相对高度信息;S4、根据所述精调信息和所述相对高度信息,生成校正信息。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法提供了更高效、更准确的位置校正方法,以提高位置的校正精度,进而提高CT机的成像质量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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