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SYSTEMS AND METHODS FOR SAMPLING CALIBRATION OF NON-INVASIVE ANALYTE MEASUREMENTS
专利权人:
MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
发明人:
SPEGAZZINI, Nicolas,BARMAN, Ishan,DINGARI, Narahara, Chari,PANDEY, Rishikesh,SOARES, Jaqueline, S.,DASARI, Ramachandra
申请号:
USUS2016/061445
公开号:
WO2017/083593A1
申请日:
2016.11.10
申请国别(地区):
WO
年份:
2017
代理人:
摘要:
Systems and methods of the present invention provide a calibration model that requires minimal information compared with prior techniques. These systems and methods represent the first generalized approach for combined treatment of spectroscopic measurements of a dynamic, mass-transfer system with the underlying kinetic model of said system. The technique can be applied to non-invasive glucose monitoring or monitoring of chemical reaction dynamics.Des systèmes et des procédés de la présente invention concernent un modèle détalonnage qui nécessite peu dinformation par comparaison avec des techniques antérieures. Ces systèmes et procédés représentent la première approche généralisée pour le traitement combiné de mesures spectroscopiques dun système de transfert de masse dynamique avec le modèle cinétique sous-jacent dudit système. La technique peut être appliquée à la surveillance non-effractive de glucose ou la surveillance de dynamique de réaction chimique.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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