校正射线照相系统中散射的装置和方法
- 专利权人:
- IBEX创新有限责任公司
- 发明人:
- 尼尔·洛斯利,保罗·斯科特
- 申请号：
- CN201880014979.4
- 公开号：
- CN110402108A
- 申请日:
- 2018.01.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种X射线成像方法,包括以下步骤:提供一套至少一种培训材料,所述一套材料包括不同的材料和/或不同厚度的该材料或每种材料;用像素化探测器获得所述至少一种培训材料的观测X射线图像;在模拟器中为模拟器内对于每种所述至少一种培训材料来说的可变参数建立模拟散射核数据库;生成模拟器参数与观测图像参数之间的传递函数,其中该传递函数与样品类型和厚度无关;生成整个图像的散射估计值;预测每个散射核的直接辐射;将传递函数应用于散射估计值和直接辐射,或将传递函数的反函数应用于观测的强度值;进行Z‑S‑D<阈值的计算,以得到无散射数据和/或无散射图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
