A method is described, including acquiring, using a camera, an image of a radiation beam incident on a phantom, the radiation beam being emitted by a radiation source. The method further includes determining a beam pointing offset based on the image and calibrating a position of the radiation source based on the beam pointing offset. A calibration system is described including the phantom, the camera, and a processing device. A phantom having an X-ray luminescent material is also described.L'invention concerne un procédé, comprenant l'acquisition, à l'aide d'une caméra, d'une image d'un faisceau de rayonnement incident sur un fantôme, le faisceau de rayonnement étant émis par une source de rayonnement. Le procédé comprend en outre la détermination d'un décalage de pointage de faisceau basé sur l'image et l'étalonnage d'une position de la source de rayonnement basée sur le décalage de pointage du faisceau. Un système d'étalonnage comprenant le fantôme, la caméra et un dispositif de traitement est en outre décrit, de même qu'un fantôme comprenant un matériau luminescent à rayons X.
