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Multipurpose beam diagnostic apparatus for detecting high-energy charged particles
专利权人:
KOREA ATOMIC ENERGY RESEARCH INSTITUTE
发明人:
KIM, YU JONG,김유종,CHA, SUNG SU,차성수,PIKAD BUAPHAD,피카드 부아파드,KIM, YU JONGKR,CHA, SUNG SUKR,PIKAD BUAPHADTH
申请号:
KR1020160033799
公开号:
KR1017798530000B1
申请日:
2016.03.22
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention relates to a multipurpose beam diagnosing apparatus capable of measuring physical properties such as energy and position of a charged particle emitted from an accelerator or the like. As the diagnosing apparatus for diagnosing the feature of a beam provided in a main beam transfer line (101) to transfer the charged particle beam emitted from the accelerator (10) to a target (20), the diagnosing apparatus includes: a bypass beam line (102) which is provided on a partial section of the main beam transfer line (101) and bypasses the charged particle beam transferred to the target; a measurement module (200) which is provided in the main beam transfer line (101) and measures the feature of the charged particle beam; and a plurality of beam path converting units (140a,140b,140c,140d) which convert the path of the charged particle beam transferred through the main beam transfer line (101) into the bypass beam line (102) and converts the bypass beam line to the main beam transfer line (101) again.본 발명은 가속기 등에서 방출된 하전입자의 에너지, 위치 등의 물성을 측정할 수 있는 다목적 빔 진단장치에 관한 것으로, 가속기(10)에서 방출된 하전입자 빔을 타겟(20)까지 수송하는 메인 빔 수송라인(101)에 마련되어 빔의 특성을 진단하기 위한 진단장치로서, 상기 메인 빔 수송라인(101)의 일부 구간에 마련되어 타겟으로 수송되는 하전입자 빔을 바이패스시키게 되는 바이패스 빔라인(102)과; 상기 바이패스 빔라인(102)에 마련되어 하전입자 빔의 특성을 계측하게 되는 계측모듈(200)과; 상기 메인 빔 수송라인(101)으로 수송되는 한전입자 빔의 경로를 상기 바이패스 빔라인(102)으로 변환하고 이를 다시 상기 메인 빔 수송라인(101)으로 변환하기 위한 복수의 빔 경로변환부(140a)(140b)(140c)(140d)를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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