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磁性微粒子成像装置
专利权人:
株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
发明人:
大汤重治,原头基司,樱井康雄
申请号:
CN201010284147.X
公开号:
CN101940472B
申请日:
2008.06.13
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明提供一种磁性微粒子成像装置、磁性微粒子成像装置的检测线圈配置方法以及磁通检测装置,在根据通过磁性微粒子的磁化产生的磁通的变化来对该磁性微粒子的分布进行图像化的磁性微粒子成像装置(10)中,具有:调制线圈(15a以及15b),通过对零磁场区域施加调制磁场(3)而使存在于该零磁场区域内的磁性微粒子磁化;检测线圈(16a以及16b),分别配置抑制由于包含在交链的磁通中的由调制线圈(15a)以及(15b)施加的调制磁场(3)的磁通所引起的影响。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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