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オーバーレイエラーのフィードフォワードおよびフィードバック修正、根本原因分析および工程の制御の統計的オーバーレイエラーの予測
专利权人:
ケーエルエー−テンカー コーポレイション
发明人:
チャン ウェイ,ラオ クリシュナ,グティエレス ジョセフ,オラヴァリア ラモン,マクナートン クレイグ,アゾルデガン アミル,ディゲ プラサンナ
申请号:
JP20160555779
公开号:
JP2017514294(A)
申请日:
2015.03.05
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
データを収集し、パターン化されたウェーハ・ジオメトリデータおよびその他の関連情報を用いてオーバーレイエラーを予測するために統計的モデルを練成、検証および展開する方法は、1つのトレーニングウェーハセットを選択し、多数のリソグラフィー工程で測定してジオメトリ差を計算し、トレーニングウェーハジオメトリ差に複数の予測モデルを適用し、予測オーバーレイをトレーニングウェーハセットの測定されたオーバーレイと比較することを含む。最も正確な予測モデルが識別され、結果はリソグラフィースキャナにフィードフォワードされ、リソグラフィースキャナはこれらの効果を修正することができ、ウェーハ走査露光工程中にオーバーレイエラーを減少することができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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