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IRRADIATION PLANNING APPARATUS AND CHARGED PARTICLE IRRADIATION SYSTEM
专利权人:
독립행정법인 방사선 의학 종합연구소
发明人:
이나니와 다쿠,가네마츠 노부유키,후루카와 다쿠지,시라이 도시유키,노다 고지
申请号:
KR1020147033990
公开号:
KR1020150016538A
申请日:
2013.04.16
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
A planning apparatus (70) determines irradiation parameter data (67) for a charged particle irradiation system (1), which radiates charged particles generated by an ion source (2) to a target (80) by accelerating the charged particles by means of a linear accelerator (4) and a synchrotron (5). The planning apparatus is provided with: a planning program (73), which determines the irradiation parameter data (67) with respect to one target (80) by combining charged particles of a plurality of kinds of ion species; and a CPU (71) for executing the planning program. Consequently, the irradiation planning apparatus capable of performing irradiation with desirable dose distribution with respect to the target, the irradiation planning program, an irradiation plan determining method, and the charged particle irradiation system are provided.이온원(2)에서 생성한 하전입자를 선형 가속기(4) 및 싱크로트론(5)으로 가속하여 표적(80)에 조사하는 하전입자 조사 시스템(1)의 조사 파라미터 데이터(67)를 결정하는 계획 장치(70)에 있어서, 하나의 표적(80)에 대한 조사 파라미터 데이터(67)를 복수 종류의 이온종의 하전입자를 조합하여 결정하는 계획 프로그램(73)과, 이것을 실행하는 CPU(71)를 구비한다.이에 의해 표적에 대해서 바람직한 선량 분포의 조사를 실현할 수 있는 조사 계획 장치, 조사 계획 프로그램, 조사 계획 결정 방법, 및 하전입자 조사 시스템을 제공한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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