基于自动对准和覆盖的匀场图校准方法的自动定位
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- D.保罗,B.施米特
- 申请号：
- CN201310163427.9
- 公开号：
- CN103424724A
- 申请日:
- 2013.05.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明是基于自动对准和覆盖的匀场图校准方法的自动定位。涉及一种用于使磁共振断层造影设备（101）的磁场（B0；B1）均匀的装置和方法，其特征在于，自动化地（119）与检查对象（105）的待由磁共振断层造影设备（101）检查的区域（FL）匹配地确定检查对象特定的视野区域（FOV2；FOV3），并且在MRT成像之前进行磁场（B0和/或B1）的调准测量，以此为基础确定仅仅视野区域（FOV2；FOV3）的场图，以视野区域（FOV2；FOV3）的场图为基础对磁场（B0；B1）进行匀场化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
