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주름 및 비만 치료용 하이프 발생장치 및 방법
专利权人:
WON TECHNOLOGY CO.; LTD.
发明人:
KIM, Jon-Won,김종원,SEO, Young-Seok,서영석,SEOL, Jong-Hwan,설종환
申请号:
KRKR2012/008638
公开号:
WO2013/103186A1
申请日:
2012.10.22
申请国别(地区):
WO
年份:
2013
代理人:
摘要:
The present invention provides: a plurality of probes of which each has individual information and is interchangeably provided a probe recognition means which constitutes an interface for mounting the probes and recognises the individual information of the probes a depth measuring means for measuring the depth from a skin surface to fat or a wrinkle by scanning with ultrasound a database which matches and stores HIFU scanning data dependent on the depth, and in which the HIFU scanning data is stored matched with the individual information of the probes and a control unit which matches the HIFU scanning data for the depth measured by the depth measuring means and judges whether there is agreement between the individual information of the probes mounted on the probe recognition means and the individual information of the probes as found on the database in accordance with the HIFU scanning data.La présente invention concerne : une pluralité de sondes, chacune ayant des informations individuelles et prévue interchangeable un moyen de reconnaissance de sonde qui constitue une interface permettant de monter les sondes et qui reconnaît les informations individuelles des sondes un moyen de mesure de profondeur permettant de mesurer la profondeur entre la surface de la peau et la graisse ou une ride par balayage avec des ultrasons une base de données qui met en correspondance et mémorise des données de balayage HIFU en fonction de la profondeur et dans laquelle les données de balayage HIFU sont mémorisées en concordance avec les informations individuelles des sondes et une unité de commande qui met en correspondance les données de balayage HIFU pour la profondeur mesurée par le moyen de mesure de la profondeur et évalue sil y a accord entre les informations individuelles des sondes montées sur le moyen de reconnaissance de sonde et les informations individuelles des sondes, telles quelles se trouvent dans la base de données, conformément aux données de balayage HIFU.본 발명
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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