Systems and methods for modeling are provided. The method can include acquiring scan data associated with a plurality of x-ray projections of an item. The method can further include determining at least one closed boundary curve associated with the item. For example, the method can determine a first maximum area based on the scan data and determine at least one edge of the first maximum area. The method can further generate a model of the item using the closed boundary curve and a first material specific parameter for a material within the closed boundary curve. The method can utilize the model to generate computed scan data, compare the computed scan data to the scan data, and determine a goodness of fit. The method can further adjust the model of the item by altering at least one of the closed boundary curve and the material specific parameter.Cette invention se rapporte à des systèmes et à des procédés de modélisation. Le procédé peut comprendre une étape consistant à acquérir des données de balayage associées à une pluralité de projections de rayons X d'un article. Le procédé peut comprendre en outre une étape consistant à déterminer au moins une courbe de frontière fermée associée à l'article. Par exemple, le procédé permet de déterminer une première zone maximum sur la base des données de balayage et déterminer au moins un bord de la première zone maximum. Le procédé peut comprendre en outre une étape consistant à générer un modèle de l'article en utilisant la courbe de frontière fermée et un premier paramètre spécifique à un matériau d'un matériau à l'intérieur de la courbe de frontière fermée. Le procédé permet d'utiliser le modèle de façon à générer des données de balayage calculées, de comparer les données de balayage calculées aux données de balayage et de déterminer une qualité de réglage. Le procédé permet en outre de régler le modèle de l'article en modifiant l'un au moins de la courbe de frontière fermée et du paramètre spécifique à un matériau.
