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一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统和方法
- 专利权人:
- 深圳市安健科技股份有限公司
- 发明人:
- 谢志华,郭一,井元庆,张龙龙,刘岩
- 申请号：
- CN202010999555.7
- 公开号：
- CN112006709A
- 申请日:
- 2020.09.22
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统，包括上位机、数据采集装置、X射线高压发生器、总线、总线接口和基于labview软件建立的控制模块；上位机通过总线接口分别与数据采集装置和X射线高压发生器电连接；X射线高压发生器通过总线接口与数据采集装置电连接；上位机通过控制模块向数据采集装置和X射线高压发生器输出控制信号；X射线高压发生器接收控制信号，并根据控制信号产生自动化曝光动作；上位机通过控制模块对测试数据进行处理和分析得出测试结果。有益效果在于：本发明基于Labview软件实现X射线高压发生器自动化曝光测试，测试系统简单、便携、减少了测试人员的重复劳动，提高了测试的效率和准确性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
