X-RAY DETECTOR

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专利权人:

VATECH EWOO HOLDINGS CO.; LTD.

发明人:

JEON, YU SUNGKR,전유성

申请号：

KR1020150145277

公开号：

KR1020170045562A

申请日:

2015.10.19

申请国别(地区):

KR

年份:

2017

代理人:

摘要：

The present invention relates to a bendable X-ray detector comprising a pressure detection means measuring the size of applied external pressure. The bendable X-ray detector can easily check damage by the external pressure.COPYRIGHT KIPO 2017본 발명은 벤더블 특성의 X선 디텍터로서, 인가된 외부 압력의 크기를 측정하는 압력감지수단을 포함하는 X선 디텍터를 제공한다.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/