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Inspection device, inspection method, and computer program product
专利权人:
株式会社湯山製作所
发明人:
湯山 裕之,天野 弘和
申请号:
JP2017546438
公开号:
JPWO2017068851A1
申请日:
2016.08.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
Provided are an inspection apparatus, an inspection method, and a computer program product that can easily remove an inappropriate object. The inspection device (1000) includes an inspection table (700) for placing an object, an imaging unit (100) that can image the object placed on the inspection table (700), and an imaging unit (100). Based on the image imaged by the inspection table (700), the inspection unit that performs inspection of the object placed on the inspection table (700), and the inspection table (700) that is mounted on the inspection table (700) based on the inspection result executed by the inspection unit. An identification processing unit that performs a process for visually distinguishing the placed specific object from other objects placed on the inspection table (700).不適正な対象物を容易に除去することができる鑑査装置、鑑査方法、および、コンピュータプログラム製品を提供する。 鑑査装置(1000)は、対象物を載置するための鑑査台(700)と、鑑査台(700)に載置された対象物を撮像可能な撮像部(100)と、撮像部(100)によって撮像された画像に基づいて、鑑査台(700)に載置された対象物の鑑査を実行する鑑査部と、鑑査部によって実行された鑑査の結果に基づいて、鑑査台(700)に載置された特定の対象物を鑑査台(700)に載置された他の対象物と視覚的に識別可能にするための処理を行う識別処理部とを備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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