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一种基于X光的精准测量成像系统
专利权人:
晓智科技(成都)有限公司
发明人:
张军,何香颖,侯雨舟
申请号:
CN201811096304.7
公开号:
CN109247948A
申请日:
2018.19.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明公开了一种基于X光的精准测量成像系统,包括用于实时测量照射对象厚度值的厚度测量模块;还包括用来接受厚度测量模块发送的厚度值,并将厚度值带入设有的EI标准范围表中得到相应的曝光参数然后发射X‑射线进行成像的X光成像模块。本发明通过一种完全不同的、一体的、全自动的、低成本的、实时精准的获取待拍摄病患所需X‑射线辐射质量的技术,通过另外的、独立于原始X‑射线影像链的系统,使用可见光、近可见光、超声等,获取病患体型数据,并通过查“EI标准范围表”获取对应的曝光参数,指导X‑射线球管发射对应辐射质量的X‑射线。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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