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利用显出光子雪崩效应的探针离子的诊断系统和方法
专利权人:
皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人:
J·F·苏伊吉维尔
申请号:
CN200780011503.7
公开号:
CN101410141B
申请日:
2007.03.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
本发明提供了用于显著增加例如光学活检的诊断过程的灵敏度和选择性的有利系统和方法。所公开的系统和方法使用高度非线性效应,所谓的光子雪崩。在接近雪崩阈值的方案中,在研究中的探针离子的密度或激发功率的小差别可以导致上转换发射强度的非常大的改变。通过该效应,可以仅仅精确地测量在离子浓度最高的位置处光学活检探针离子的信号,同时,显著地减少或消除了来自在整个测量体积上以稍低浓度分布的探针离子的背景信号的测量。同样,利用这种技术,基本上不存在周围健康组织的背景自发荧光。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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