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用于校正软场层析成像中故障状况的系统和方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- A·S·罗斯
- 申请号：
- CN201110463165.9
- 公开号：
- CN102697497A
- 申请日:
- 2011.12.22
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明名称为“用于校正软场层析成像中故障状况的系统和方法”。一种软场层析成像系统，包括：多个传感器，其配置成定位在对象的表面。激励驱动器配置成生成针对多个传感器的预先计算的默认激励模式。处理器存储预先计算的默认激励模式以及针对预先计算的激励模式的对应的预计响应。处理器还存储一个或多个预先计算的故障激励模式和针对故障激励模式的对应的预计响应，该对应的预计响应对应多个传感器的一个或多个故障状况。响应测量装置被配置成测量一个或多个传感器处的响应，以便确定故障状况是否存在。如果故障状况存在，则处理器将进行以下至少一个：向激励驱动器发送指令以便生成预先计算的故障激励模式，或者使用对应故障状况的预计响应，用于软场层析成像过程。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
