您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

METHOD FOR QUICKLY AND PRECISELY CALIBRATING MEDICAL IMAGING COMPONENT AFTER CHANGING POSITION
专利权人:
WEIDU MEDICAL SYSTEMS; INC.
发明人:
MU, ZHIPING
申请号:
CNCN2012/074487
公开号:
WO2012/142972A1
申请日:
2012.04.21
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
A method for quickly and precisely calibrating a medical imaging component after changing position, the method comprising: placing the imaging component at a reference position, a first measuring system precisely calibrating the reference position and obtaining a precise calibration value of the reference position at the same time, a second measuring system performing a second calibration for the reference position of the imaging component and obtaining a reference calibration value of the reference position measuring the current position of the imaging component using the second measuring system and obtaining a reference calibration value of the current position obtaining a precise calibration value of the current position via calculation according to the precise calibration value of the reference position, the reference calibration value of the reference position, and the reference calibration value of the current position. The method calibrates conveniently and quickly, enables a medical imaging system to have a greater movement space and be more flexible to use, thus better facilitating the improvement of the clinical effect of the imaging system.Linvention porte sur un procédé pour étalonner rapidement et précisément un composant dimagerie médicale après un changement de position, lequel procédé met en œuvre : la disposition du composant dimagerie en une position de référence, un premier système de mesure étalonnant de manière précise la position de référence et obtenant une valeur détalonnage précise de la position de référence en même temps, un second système de mesure effectuant un second étalonnage pour la position de référence du composant dimagerie et obtenant une valeur détalonnage de référence de la position de référence la mesure de la position actuelle du composant dimagerie à laide du second système de mesure et lobtention dune valeur détalonnage de référence de la position actuelle lobtention dune valeur détalonnage précise de la position actuell
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充