Provided are: an ion content measurement device that reduces the effect of leakage current and can highly precisely measure ion content an ion content measurement method and an ion generation device. The ion content measurement device has: a collection electrode (86) that collects ions generated by an ion generation unit (6) a measurement unit (87) that measures the potential of the collection electrode (86) and a CPU (81) that causes the ion generation unit (6) to be in an operating state for generating ions or a non-operating state for not generating ions. The ion content is calculated and measured on the basis of the difference between the measurement results of the measurement unit (87) during the period in which the ion generation unit (6) is in the operating state, and the measurement results of the measurement unit (87) during the period in which the ion generation unit (6) is in the non-operating state.Linvention porte sur : un dispositif de mesure de teneur en ions qui réduit leffet de fuite de courant et peut mesurer de façon hautement précise une teneur en ions un procédé de mesure de teneur en ions et un dispositif de génération dions. Le dispositif de mesure de teneur en ions comprend : une électrode de collecte (86) qui collecte des ions générés par une unité de génération dions (6) une unité de mesure (87) qui mesure le potentiel de lélectrode de collecte (86) et une unité centrale de traitement (CPU) (81) qui amène lunité de génération dions (6) à être dans un état de fonctionnement pour générer des ions et un état de non-fonctionnement pour ne pas générer dions. La teneur en ions est calculée et mesurée sur la base de la différence entre les résultats de mesure de lunité de mesure (87) durant la période pendant laquelle lunité de génération dions (6) est dans létat de fonctionnement, et les résultats de mesure de lunité de mesure (87) durant la période pendant laquelle lunité génération dions (6) est dans létat de non-fonctionnement.漏れ電流による影響を減少
