您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

光干渉断層計
专利权人:
NIDEK CO LTD;株式会社ニデック
发明人:
ISOGAI NAOKI,磯貝 直己,AONO HIDEKI,青野 秀樹,HIGUCHI YUKIHIRO,樋口 幸弘,MURASE YUJI,村瀬 祐二
申请号:
JP2016019365
公开号:
JP2017136213A
申请日:
2016.02.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To acquire information on a dynamic state of an eye to be examined satisfactorily.SOLUTION: An interference optical system 1 irradiates a measurement light from a light source 102 onto a tissue of an eye E to be examined, and detects the interference between a reference light and the measurement light reflected by the tissue by a detector 120. A control part 70 acquires A scan data based on a signal output from the detector 120 with a cycle of at least 300 kHz or more, and generates three-dimensional OCT data on the basis of the acquired A scan data as needed. The control part 70 then performs analysis processing for each of the three-dimensional OCT data generated as needed, and outputs real time analysis results for the three-dimensional OCT data generated as needed.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】 被検眼の動態に関する情報を良好に得ること。【解決手段】 干渉光学系1は、光源102からの測定光を被検眼Eの組織へ照射し、参照光と,前記組織で反射された前記測定光と,の干渉を検出器120で検出する。制御部70は、検出器120から出力される信号に基づくAスキャンデータを少なくとも300キロヘルツ以上の周期で取得すると共に、取得したAスキャンデータに基づいて3次元OCTデータを随時生成する。そして、制御部70は、随時生成される各々の3次元OCTデータに対して解析処理を行うことで、随時生成される3次元OCTデータのリアルタイムな解析結果を出力する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充