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光学的測定方法
专利权人:
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD
发明人:
HIRANO MITSUHARU,平野 充遥
申请号:
JP2013171282
公开号:
JP2015040744A
申请日:
2013.08.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical measurement method by which a distribution of an absorptive scattering substance in a sample can be obtained with high accuracy.SOLUTION: The optical measurement method includes: (1) a data acquisition step of detecting reflected light, which is induced in a sample containing a plurality of absorptive scattering substances when the sample is irradiated with light or light is made to propagate in the sample, as a function of time or wavelength so as to acquire a relationship between a reflected light quantity and a reflection position in the sample at a plurality of time zones or wavelength ranges and (2) a data process step of obtaining each distribution of the plurality of absorptive scattering substances based on the relationship between the reflected light quantity and the reflection position in the sample at the plurality of time zones or wavelength ranges acquired in the data acquisition step. In the data process step, a distribution of any absorptive scattering substance in the plurality of absorptive scattering substances is corrected based on distributions of other absorptive scattering substances.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】サンプル内部の吸収散乱性物質の分布を高精度に得ることができる光学的測定方法を提供する。【解決手段】本発明の光学的測定方法は、(1) 複数の吸収散乱性物質を含むサンプルに光を照射または伝搬させたときに該サンプルにおいて生じる反射光を時間または波長の関数として検出して、複数の時間帯または波長帯におけるサンプル内部の反射位置と反射光量との関係を取得するデータ取得ステップと、(2) データ取得ステップにおいて取得された複数の時間帯または波長帯におけるサンプル内部の反射位置と反射光量との関係に基づいて、複数の吸収散乱性物質それぞれの分布を求めるデータ処理ステップと、を備える。データ処理ステップにおいて、複数の吸収散乱性物質のうちの何れかの吸収散乱性物質の分布を他の吸収散乱性物質の分布に基づいて補正する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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