用于测量植物生长条件的装置及方法
- 专利权人:
- 罗克伍尔国际公司
- 发明人:
- 雅各布·弗兰克·德格鲁特
- 申请号：
- CN201480007734.0
- 公开号：
- CN105072889B
- 申请日:
- 2014.02.07
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 王静`张珂珂
- 摘要：
- 本发明提供了用于在基质内测量植物生长条件的装置(10)和方法。使用探针(16、18)的第一和第二线性阵列，获得基质性质的多个测量结果。使用在基质中不同水平面的多个测量结果然后将这多个测量结果组合，从而更精确地获得植物生长条件。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
