用于产生相位对比显示的方法和X射线系统
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- T.弗洛尔,R.劳帕克
- 申请号：
- CN201380036091.8
- 公开号：
- CN104427938A
- 申请日:
- 2013.05.23
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于产生检查对象(P)的相位对比显示的方法和X射线系统，其中，通过利用至少两个不同的X射线能量谱(2,3；4,5)确定对于X射线辐射的能量相关的衰减值来确定在检查对象(P)中的电子密度分布，从先前确定的电子密度分布中确定相移值，并且从所计算的相移值中产生相位对比显示。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
