Beleuchtungseinrichtung (100) für ein Mikroskop mit einer ein Objektiv (2) mit variablem Arbeitsabstand (d, d) umfassenden Beobachtungsoptik, wobei die Beleuchtungseinrichtung (100) eine gemeinsame Lichtquelle (102), eine Trenn- und Umlenkanordnung (110) aufweist, mit welcher das Beleuchtungslicht in wenigstens zwei Beleuchtungsstrahlengänge (104, 106) einkoppelbar ist, wobei die optischen Achsen der Beleuchtungsstrahlengänge (104, 106) relativ zur optischen Achse (11) der Beobachtungsoptik in Abhängigkeit vom Arbeitsabstand (d, d) des Objektivs (2) geneigt sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Trenn- und Umlenkanordnung (110) wenigstens ein Umlenkelement (112, 118) mit zwei wenigstens teilweise reflektierenden Flächen (114, 116, 120) aufweist, deren Lage und Orientierung konstant ist, wobei wenigstens einer der Beleuchtungsstrahlengänge (104, 106) an beiden reflektierenden Flächen (114, 116, 120) umgelenkt wird.Lighting device (100) for a microscope with a an objective lens (2) with variable working distance (d, d ) comprehensive observation optics, wherein the illumination device (100) a common light source (102), a partition - and deflecting arrangement (110), with which the illuminating light in at least two illumination beam paths (104, 106) can be coupled, wherein the optical axes of the illumination beam paths (104, 106) relative to the optical axis (11) of the viewing optics as a function of the working distance (d, d) of the objective lens (2) are inclined, characterized in that the separating - and deflecting arrangement (110) at least one deflection element (112, 118) with two at least partially reflecting surfaces (114, 116, 120), whose position and orientation is constant, wherein at least one of the illumination beam paths (104, 106) at the two reflecting surfaces (114, 116, 120) is deflected.
