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二硫化钼/纳米银复合物作为基质在基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱检测中的应用
专利权人:
南京大学
发明人:
许丹科,赵亚菊,刘晓辉,李慧,孙亮
申请号:
CN201610415587.1
公开号:
CN105929017A
申请日:
2016.06.14
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
肖明芳
摘要:
本发明公开了二硫化钼/纳米银复合物作为基质在基质辅助激光解吸电离(MALDI)飞行时间质谱检测中的应用。首先通过改进的化学锂离子插层剥离法制备得到寡片层的二硫化钼,并在此基础上通过原位还原硝酸银制备得到二硫化钼/纳米银复合物。以该复合物作为MALDI基质的分析方法适用于对分子量小于1000的小分子进行质谱分析。适合的分子种类包括氨基酸、寡肽、脂肪酸、生物碱、激素、抗生素、抗菌药和抗癌药物等。采用本方法检测质荷比值(m/z)小于1000的分子时,不存在基质背景干扰现象。本方法可在有机与生物质谱、质谱成像、蛋白质谱学、代谢组学、生物标记物发现和环境分析等领域得到有效的应用。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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