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SONDE D'IMAGERIE ET PROCÉDÉ D'OBTENTION D'INFORMATIONS DE POSITION ET/OU D'ORIENTATION
专利权人:
DUNBAR, Allan;VENTURA SOBRINO PATINO, Eliseo;VON OFFENBERG SWEENEY, Robert;EZONO AG;HENKEL, Rolf
发明人:
HENKEL, Rolf,VENTURA SOBRINO PATINO, Eliseo,VON OFFENBERG SWEENEY, Robert,DUNBAR, Allan
申请号:
EPEP2011/065420
公开号:
WO2013/034175A1
申请日:
2011.09.06
申请国别(地区):
EP
年份:
2013
代理人:
摘要:
A method of obtaining information about the position and/or orientation of a magnetic component relatively to a magnetometric detector, the magnetic component and the magnetometric detector being moveable independently from each other relatively to a static secondary magnetic field, the method comprising the steps of: measuring in the presence of the combination of both the magnetic field of the magnetic component and the static secondary magnetic field essentially simultaneously the strength and/or orientation of a magnetic field at at least a first position and a second position spatially associated with the magnetometric detector, the second position being distanced from the first position; and combining the results of the measurements to computationally eliminate the effect of the secondary magnetic field and derive the information about the position and/or orientation of the magnetic component.L'invention porte sur un procédé d'obtention d'informations concernant la position et/ou l'orientation d'un composant magnétique par rapport à un détecteur magnétométrique, le composant magnétique et le détecteur magnétométrique étant mobiles indépendamment l'un de l'autre par rapport à un champ magnétique secondaire statique, le procédé comprenant les étapes consistant à : mesurer, en présence de la combinaison à la fois du champ magnétique du composant magnétique et du champ magnétique secondaire statique, de manière pratiquement simultanée, l'intensité et/ou de l'orientation d'un champ magnétique à au moins une première position et une seconde position associées dans l'espace au détecteur magnétométrique, la seconde position étant distante de la première position ; et combiner les résultats des mesures pour éliminer par le calcul l'effet du champ magnétique secondaire et déduire les informations concernant la position et/ou l'orientation du composant magnétique.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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