Exemplary apparatus and method for obtaining information for at least one structure can be provided. For example, it is possible to forward at least one first electro-magnetic radiation to the at least one structure which is external from the apparatus. At least one second electro-magnetic radiation provided from the at least one structure (which is based on the first electro-magnetic radiation(s)) can be detected. It is also possible to determine at least one characteristic of the structure(s) based on the second electro-magnetic radiation(s), and obtain data relating to a pressure of at least one portion of the structure(s) based on the characteristic(s).Cette invention concerne un exemple dappareil et de méthode permettant dobtenir des données concernant au moins une structure. Il est par exemple possible de transmettre au moins un premier rayonnement électromagnétique à ladite structure qui se trouve en dehors de lappareil. Au moins un deuxième rayonnement électromagnétique provenant de ladite structure (basé sur ledit ou lesdits premiers rayonnements électromagnétiques) peut être détecté. Il est également possible de déterminer au moins une caractéristique de ladite ou desdites structures daprès ledit ou lesdits deuxièmes rayonnements électromagnétiques, et dobtenir des données relatives à la pression dau moins une partie de ladite ou desdites structures daprès ladite ou lesdites caractéristiques.
