测量方法
- 专利权人:
- 哈格-斯特莱特有限公司
- 发明人:
- A·梅兹纳里奇,B·冯 沃尔德克奇,C·施莱皮,C·左斯,E·林德利斯巴赫尔,J·布赖滕施泰因,K·巴尔策,L·罗夫莱多,P·斯泰尔德,S·基里亚坦
- 申请号：
- CN201511035913.8
- 公开号：
- CN105686793B
- 申请日:
- 2015.12.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于记录体特别是眼睛上的测量点的测量方法,通过测量光束沿着待测体体的表面特别是待测体的曲目上的轨迹记录测量点,用于确定轴向长度轮廓。此处,轨迹的最小曲率半径至少为表面的圆周半径的1/7,优选的是至少为1/5,特别优选的是至少为1/3。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
