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一种分子印迹聚合物-石墨烯复合材料修饰电极及其制备方法和应用
专利权人:
上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心;华东师范大学
发明人:
程欲晓,强音,费旭东,张继东,顾中怡,金樱华,鲜跃仲,陈宁宁,顾玮,史鑫浩,赵凯
申请号:
CN201410106920.1
公开号:
CN103868966B
申请日:
2014.03.21
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
董红曼
摘要:
本发明公开了分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰电极,包括分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料和玻碳电极,以所述玻碳电极为基体,所述分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰在所述玻碳电极上。本发明还提供了分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰电极的制备方法及其在苯胺和4,4’‑亚甲基二苯胺(MDA)检测中的应用。本发明具有响应速度快、选择性好、灵敏度高等优点,适用于食品安全和环境卫生中苯胺和MDA的快速检测。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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