一种分子印迹聚合物-石墨烯复合材料修饰电极及其制备方法和应用
- 专利权人:
- 上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心;华东师范大学
- 发明人:
- 程欲晓,强音,费旭东,张继东,顾中怡,金樱华,鲜跃仲,陈宁宁,顾玮,史鑫浩,赵凯
- 申请号：
- CN201410106920.1
- 公开号：
- CN103868966B
- 申请日:
- 2014.03.21
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 董红曼
- 摘要：
- 本发明公开了分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰电极，包括分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料和玻碳电极，以所述玻碳电极为基体，所述分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰在所述玻碳电极上。本发明还提供了分子印迹聚合物‑石墨烯复合材料修饰电极的制备方法及其在苯胺和4，4’‑亚甲基二苯胺(MDA)检测中的应用。本发明具有响应速度快、选择性好、灵敏度高等优点，适用于食品安全和环境卫生中苯胺和MDA的快速检测。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
