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測定装置
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
小林 秀一,福谷 和彦
申请号:
JP2010258590
公开号:
JP5574927B2
申请日:
2010.11.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring apparatus used for an object, the apparatus creating images with less deterioration of resolution caused by refraction without using complicated calculation for correcting the effect of refraction of an acoustic wave.SOLUTION: The measuring apparatus is used such that the apparatus includes a probe having an element detecting the acoustic wave that has propagated through the object, an acoustic lens disposed between the probe and the object, and a signal processor obtaining object information from an electrical signal based on the acoustic wave detected by the element of the probe. The probe is disposed at a position where the element of the probe is made acoustically conjugate to a surface on a probe side of the object by the acoustic lens.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】音響波の屈折による影響を補正するための複雑な演算を用いることなく、屈折による解像度劣化の少ない画像化が行える被検体測定装置を提供する。【解決手段】被検体を伝搬した音響波を検出する素子を含む探触子と、探触子と被検体の間に配置される音響レンズと、探触子の素子が検出した音響波に基づく電気信号から被検体情報を取得する信号処理部を有し、探触子は、音響レンズにより、探触子の素子と、被検体の探触子側の表面とが音響的に共役となる位置に配置される測定装置を用いる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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